Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可以幫助我們回答這個問題。
光學薄膜中的公差評定是個實際問題。沒有一個好的、通用的分析技術。Essential Macleod里的一個簡單工具－Errors, 假定所有膜層中的厚度誤差都是隨機的，能夠顯示在許多薄膜中獨立控制命令不可能精確，而用其它的方法確實能夠構造這些薄膜。實事上，公差和誤差的影響很大程度上依賴于控制技術。通過將誤差的Monte Carlo近似擴展到控制過程的實際模型中去，Simulator解決了公差問題。
使用由Runsheet創建的控制設計, Simulator模擬沉積的控制，同時引入隨機和系統效應，如信號中的噪聲，加工因素的不同，材料密度誤差等等，并且顯示這些參數對最后模擬的薄膜產品的影響。
Simulator比簡單的監控問題回答得更多。所有與薄膜系統有關的其它的參數都可以轉換成檢查模擬和它們影響的參數。Simulator的結果顯示，在沒有改變系統中噪聲或精度時，某一膜層的監控過程中的一個小小改變，對DWDM應用的多腔分束器的設計中，能否引起實質性的改進。
注：要Simulator操作正確，Runsheet提高必須也存在。
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