背景 長期以來，人類慧眼和顯微鏡是寶石學實驗室的唯二工具。然而，技術進步催生了各種各樣經人工處理的天然寶石，以及肉眼和顯微鏡無法區分的合成寶石。因此，現在的寶石學實驗室需要配備可與高校研究中心相媲美的儀器和技能。 在眾多現有分析技術中，拉曼與光致發光光譜已成為鑒定和表征寶石的理想技術。 挑戰 如何選擇鑒定和表征寶石的理想工具？ 如何快速準確識別真假鉆石？ 寶石內部微小包裹體想一探究竟，卻沒有頭緒？ 莫慌~試試雷尼紹的inVia?共焦顯微拉曼光譜儀——您的理想之選。 解決方案 inVia共焦顯微拉曼光譜儀是鑒定和表征寶石的理想工具。 它可以輕松執行拉曼光譜和光致發光光譜分析。 您可以清楚無誤地實現： 快速識別和鑒定寶石 分析包裹體，以確定地質成因和產地 識別鉆石處理方法，包括用以提升品質或形成絢麗色彩的輻照和高壓高溫 (HPHT) 退火處理。inVia還可以確定哪個位置采用了多種處理方法 識別彩色寶石的處理方法，例如： -通過分析包裹體識別熱處理方法（通常用于紅寶石和藍寶石） -基于結構修飾識別熱處理方法（例如用于尖晶石） -裂隙填充處理（例如用于綠寶石、電氣石和玻璃填充剛玉） -浸注處理（例如用于玉石、蛋白石和不透明的寶石） -輻照處理（例如用于珍珠） 區分天然寶石與合成寶石（鉆石、尖晶石、綠寶石） 鑒別贗品和仿制品 inVia顯微拉曼光譜儀還具備一個優點：它既可以分析裸石，也可以分析（珠寶和手表上）鑲嵌的寶石。它還是一款功能強大的研究儀器，可用于進行寶石學領域的科學研究。 示例分享 一 、天然鉆石還是合成鉆石，如何識別？ 化學氣相沉積法 (CVD) 處理的IIa型合成鉆石 在珠寶行業中，區分天然鉆石與實驗室合成鉆石至關重要。如果低溫PL光譜中出現硅相關晶格缺陷（Si色心）的譜帶，就可以輕松區分二者。硅通常是CVD工藝帶入的雜質，但在天然鉆石中并不常見。這些缺陷對應于PL光譜中在736.6nm到736.9nm之間的雙峰。 此外，740.9nm和744.4nm處的譜帶與GR1特征有關，但通常不會出現在CVD合成鉆石中。 圖1 — IIa型CVD實驗室合成鉆石的光譜，顯示出736.6nm和736.9nm處的硅相關晶格缺陷，且缺少GR1譜帶（箭頭所示位置） 二、包裹體分析，一探究竟 inVia顯微拉曼光譜儀的EasyConfocal?技術能夠以高空間分辨率快速研究寶石內的微小包裹體。 inVia支持透射、反射和暗場照明，提供多種選項來定位包裹體。圖2所示為粉色藍寶石（屬天然剛玉的一種）內的一個包裹體。 雷尼紹的無機物和礦物光譜數據庫涵蓋1,000多種相關物質的光譜，使用該數據庫可以輕松、快速識別包裹體。圖3展示了剛玉中一個包裹體的光譜。經鑒定，該包裹體為尖晶石。 圖2 — 粉色藍寶石（屬天然剛玉的一種）內的尖晶石包裹體 圖3 — 使用雷尼紹光譜數據庫搜索功能，鑒別該剛玉包裹體為尖晶石 總結 inVia是一個全方位分析工具： 上述示例表明，在寶石學實驗室的日常工作中，您可以使用inVia顯微拉曼光譜儀輕松鑒定寶石真偽，并檢測其處理方法。 使用inVia，您可以盡享拉曼光譜技術的特有優勢，以及研究級顯微拉曼光譜儀的強大功能： 利用專用的寶石光譜數據庫，準確無誤地鑒別材質 快速、無損分析 無需制備樣品即可直接檢測 以高空間分辨率和高靈敏度分析包裹體
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