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     德國(guó)羅森海姆，2012年12月：面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，將在歐洲3D TSV峰會(huì)上（格勒諾布爾——2013年1月22-23日）發(fā)表論文主題演講。

     報(bào)告將重點(diǎn)關(guān)注3D封裝芯片的質(zhì)量與測(cè)試相關(guān)問題。與單一芯片技術(shù)相比，堆疊式芯片存在更大的故障風(fēng)險(xiǎn)。故障可以發(fā)生在芯片本身，但除此之外，亦可能發(fā)生在內(nèi)插器、疊片和連接中。堆疊中的不良部件將損壞優(yōu)良部件。最壞情況將在功能失常的堆疊上面添加像內(nèi)存之類的高成本部件。KGD概念僅可部分解決這一問題。高級(jí)封裝工藝不僅需要整個(gè)供應(yīng)鏈的總可靠性，而且亦需要高級(jí)模式來降低由封裝工藝本身所致的無收益產(chǎn)出風(fēng)險(xiǎn)。

     在傳統(tǒng)的半導(dǎo)體生產(chǎn)中，部件測(cè)試（適于KGD）以及裝運(yùn)之前最終功能QA的最終測(cè)試足以確保質(zhì)量乃至成本效率。像3D之類的高級(jí)封裝方法不限于此。該論文將探討分布式測(cè)試流程的方法，它特別在封裝工藝方面，對(duì)測(cè)試成本和非測(cè)試成本進(jìn)行了對(duì)比。它也重點(diǎn)闡述分布式測(cè)試戰(zhàn)略的機(jī)遇和挑戰(zhàn)，同時(shí)分析不同測(cè)試分布的最佳模式以及特定設(shè)備要求。

     該領(lǐng)域首屆峰會(huì)的主題是“在通向TSV生產(chǎn)的征途中”（On the Road towards TSV Manufacturing），這是一個(gè)關(guān)鍵議題，因?yàn)殡S著業(yè)界持續(xù)追求在日益縮小的硅片“空間”中增加功能，設(shè)備設(shè)計(jì)師和制造商逐漸地跨到第三維度。

     歐洲3D TSV峰會(huì)將討論全部3D技術(shù)和研發(fā)流程，因?yàn)橛袠I(yè)內(nèi)領(lǐng)先公司參會(huì)，與會(huì)者既可欣賞到初始樣機(jī)，亦可了解批量生產(chǎn)。會(huì)議也將探討3D TSV的商業(yè)相關(guān)方面。