隨著科學技術的發(fā)展，各項科學實驗的高、精、尖要求越來越高，各領域里的實驗儀器精度不斷攀高，所以同時要求實驗的環(huán)境越來越好。在傳統(tǒng)隔振基礎上面，不斷細化，如今變成了一個能夠針對各類實驗的高精度的工作平臺，它充當起了一個各項實驗的安靜的系統(tǒng)工程。可由于我國的振動研究比較晚，大多數(shù)尖端儀器依賴進口平臺，所以目前我國秀多科研單位和大學實驗室都使用進口隔振產品。然而通本公司近幾年的技術創(chuàng)新和市場營銷的努力，以優(yōu)異的性價比及優(yōu)秀的售后服務為切入口，逐步代替了進口，甚至出口國際市場，參與國際競爭。
光學平臺外觀：光學平臺外觀應美觀，各部位都應無影響安全的銳角及銳邊，更重要的是檢查孔口倒角是
否均勻一致（螺孔旋入后應垂直平臺面），四邊及其倒角是否平直一致。如果臺面未經過機械加工而是人工打磨
出來的孔口倒角是大小不一致的，沿臺面四周邊用目測即可看出臺面倒角處是彎曲的。
光學平臺固有頻率（≤2Hz）：固有頻率也稱自然頻率、自振頻率，只有在環(huán)境擾動力頻率（f）與光學平
臺的固有頻率(fo)的比值f/fo＞√2 時系統(tǒng)才有隔振作用。所以光學平臺的固有頻率越低，隔振效果效果就越好。
該指標的檢測一般采用振動頻譜分析儀及便攜式振動分析儀來進行多點測量，如供應商不具備儀器測量（當然這
是很不正常的），您也可用以下方法：用手用力壓下（或側推）平臺，然后迅速松開，讓其大幅度上下振動（或
左右、前后擺動）起來，如一秒鐘內往復一次即為1Hz，二次即為2Hz，依此類推。須可粗略測得光學平臺的固
有頻率。
光學平臺平面度（≤0.05 ㎜/㎡）：該指標越小即表明臺面越平整，調整光路就越容易。一般出廠要求平面
度小于0.05 ㎜/㎡，檢測方法一般有：光電自準直儀法、光學平面度檢查儀檢測法、水平儀檢測法、激光平面度
檢測儀等等。對安裝在實驗室的光學平臺平面度一般采用光電直準儀和光學平直度檢查儀檢測，經計算后得出。
這些儀器也是生產廠商應必須配置的。
光學平臺表面密迪紋理及粗糙度（Ra≤0.8μm）：該指標的意義在于保證光學平臺有一個光滑但無反射的
工作表面。良好的表面粗糙度有利對實驗儀器的保護，產品出廠要求一般在Ra≤0.8μm 以下，粗糙度完成可采
用對比樣板目測和粗糙度儀檢測，如果是現(xiàn)場檢測可采用粗糙度儀完成。該儀器具有便攜、可直讀數(shù)據(jù)、精度高
等優(yōu)點。
光學平臺重復定位精度（±0.10 ㎜）：該指標意義在于保證工作臺面在動態(tài)條件下的水平，以方便使用者高
速光路，檢測方法是將百分表（精度0.02 ㎜）固定在穩(wěn)固的物體上，表頭頂住臺面，然后在工作臺面上反復加
載或卸載，待穩(wěn)定后讀數(shù)在范圍正負0.10 ㎜以內即為合格。
光學平臺工作臺面的振幅（So≤2μm）：在正常的使用環(huán)境下，為了保證儀器的使用精度，光學平臺必須
提供盡可能低的振幅。同時也可通過臺面和地面振幅指標的對比，反映系統(tǒng)的隔振性能。如平臺振幅小于地面振
幅，則平臺是隔振的，反之則是不隔振或振動放大的。振幅指標的檢測，類同固有頻率檢測。
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