12月8日消息，據(jù)“凌光紅外”公眾號發(fā)文，凌光紅外正式推出商用激光誘導電阻變化檢測設備（LaserSight系列），標志著國產(chǎn)電性失效分析設備在Thermal/EMMI/OBIRCH（TIVA）三大主流技術方向上實現(xiàn)全線貫通。
OBIRCH（激光誘導電阻變化技術），與熱發(fā)射、光發(fā)射并列為電性失效分析領域的三大標準定位方法。
該技術通過激光束掃描檢測因電阻變化反映的電路內(nèi)部缺陷，常用于定位金屬互聯(lián)故障、短路等電性失效問題。
自1997年日本公司推出首臺商用設備以來，OBIRCH技術及相關設備長期被少數(shù)國外廠商壟斷。其中，日本H公司與美國F公司占據(jù)超過80%的市場份額，使該設備成為國內(nèi)半導體分析領域典型的“卡脖子”環(huán)節(jié)。
此次凌光紅外發(fā)布的LaserSight系列，首次實現(xiàn)了國產(chǎn)激光誘導電阻變化定位設備的自主供應。
截至2025年12月，該系列已完成多臺交付并穩(wěn)定運行，性能對標國際旗艦產(chǎn)品。
LaserSight系列適用于金屬互聯(lián)缺陷、金屬/半導體短路等典型分析場景，可廣泛應用于集成電路、功率器件及光電器件等領域的失效定位，為國內(nèi)半導體產(chǎn)業(yè)提供了又一關鍵環(huán)節(jié)的國產(chǎn)化檢測支持。
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